在可再生能源领域,铜铟硒(CuInSe₂,简称CIS)量子点因其优异的光电性能,被视为下一代太阳能电池的关键材料。然而,量子点尺寸微小,表面缺陷会严重降低能量转换效率。近期,埃及科研团队通过正电子湮没谱学技术,首次量化了量子点尺寸与表面缺陷的关系,为高性能太阳能材料设计提供了新方向。
CIS量子点——太阳能领域的“潜力股”

CIS材料属于I-III-VI₂族化合物,具有直接带隙(约1.04 eV)和高吸光系数,能高效捕获太阳光。其量子点版本(尺寸小于10纳米)因量子限域效应,可精准调节带隙能量,适配不同光谱需求,广泛应用于太阳能电池、光催化剂和生物医疗领域。例如,CIS基太阳能电池的转换效率已达23.35%。然而,量子点表面原子比例高,易形成缺陷陷阱,导致电子-空穴对复合加速,制约性能突破。
表面缺陷——量子点的“隐形杀手”
当量子点尺寸减小时,表面原子占比激增,形成大量缺陷。这些缺陷像“陷阱”一样捕获载流子,阻碍电流生成。传统表征手段(如透射电镜或拉曼光谱)只能观测表面形貌,难以量化缺陷密度与分布。例如,对于3-10纳米的CIS量子点,缺陷浓度如何随尺寸变化?这一直是材料优化的瓶颈。
热注射合成+正电子湮没双管齐下
埃及Kafrelsheikh大学团队采用热注射法合成三种尺寸的CIS量子点(3.3 nm、7.6 nm和11.7 nm),确保晶体纯度。随后,他们利用正电子湮没谱学(PAS)——一种无损探测技术,分析缺陷微观结构:
· 正电子湮没寿命谱(PAL):向样品注入正电子(电子的反物质),测量其湮没前“存活”时间。缺陷区域电子密度低,正电子寿命更长。
· 多普勒展宽谱(DB):监测湮没产生的伽马光子能量展宽,反推电子动量分布,识别缺陷类型。
小尺寸,大缺陷!

通过PAS技术,团队获得关键发现:
· 使用正电子寿命测量获得了缺陷定量数据:3.3 nm量子点的τ₂寿命值达428.3 ps,7.6 nm为426.3 ps,而11.7 nm纳米粒子降至376.6 ps。寿命越长,表明表面缺陷越多——小尺寸量子点缺陷密度显著升高。
· 计算多普勒展宽参数揭示了缺陷演化规律:S/W参数分析显示,量子点尺寸减小至3.3 nm时,缺陷结构从空位型转向表面主导型。统计证实:缺陷尺寸与粒子大小呈负相关,浓度则相反。
· 技术优势:正电子湮没技术可探测0.1纳米至微米级缺陷,灵敏度达百万分之一,远超透射电镜(>1 nm缺陷)或原子力显微镜(仅限表面)。
为太阳能电池“扫清障碍”
这项研究首次建立CIS量子点尺寸-缺陷的定量模型,为“缺陷工程”提供蓝图:
· 短期应用:通过调控配体类型或核壳结构,可抑制小量子点缺陷。例如,优化表面钝化层,提升太阳能电池效率。
· 长期展望:成果可拓展至其他量子点材料(如铜铟硫化物),推动柔性电子与高效光伏器件发展。团队下一步将研究薄膜中缺陷分布,加速产业化落地。