产品简介：

 DPLS-4000 F是DPLS-4000的升级版本，使用独有的反符合设计与机器学习数据处理技术，可以测量微米级别厚度薄膜的正电子湮没寿命，对于制备困难、物质量少的纳米材料、薄膜材料是一种理想的无损表征手段。

 DPLS-4000 F同样支持在非薄膜模式下工作，此时功能与基本型号DPLS-4000相似。 

 产品特色： 

薄膜测量：创造性的使用反符合设计，实现了微米级厚度薄膜的直接测试，通过机器学习算法对数据进行优化，提高实验精度。 

 一机集成：DPLS-4000 F使用模块化设计，将所有设备集成在机箱中，设备占地面积小，安装移动快捷，可以在各种场景中使用。

 一键测量：利用AI算法实现自动设置，省去繁复的调试过程，消除使用门槛，真正让用户开机即用、一键测量。

 技术指标：

 时间分辨率≤230ps（使用Na-22 放射源测量正电子湮没寿命谱）； 

 可测薄膜最小厚度≤2μm，可测薄膜最大厚度≥100μm；

 能量分辨率≤5.0%@1.275MeV；

 时间采样率≥5G/SPS； 

 幅度分辨率≥12位；

 典型阳极脉冲上升时间≤0.8ns； 

 典型渡越时间分散≤0.37ns；

 闪烁体探测器溴化镧晶体尺寸≥Φ25mm x L15mm； 

 采用 Na-22 放射源，活度≥20µCi。 

 具有示波器功能； 

 能窗自动识别功能；

 探测器集成分压电路、磁屏蔽；

 具有一键设置功能， 自动设置所有测量参数，用户无需调试直接使用； 

 具有自动校准功能，在测量过程中始终保持参数的稳定。